2018年5月7日，賽默飛宣布發(fā)布一款新的電鏡產(chǎn)品——Prisma。新的Prisma電鏡平臺包含了廣泛的自動化和友好的用戶界面，使得工業(yè)用戶在常規(guī)的工業(yè)應(yīng)用程序中易于學(xué)習(xí)和操作，同時保留了科研或?qū)W術(shù)用戶使用中所需要的靈活性。如此，學(xué)術(shù)研發(fā)、工業(yè)企業(yè)的質(zhì)量控制和失效分析實驗室工作的用戶們現(xiàn)在可以同樣使用一種簡單但功能強(qiáng)大的新型掃描電子顯微鏡，它也為更復(fù)雜的材料探索提供了全面的成像和分析選擇。

Prisma E SEM

　　“Prisma全面優(yōu)選的探測器、原位級、自動化系統(tǒng)，以及它的環(huán)保模式，使其成為目前市場上zui完整的產(chǎn)品之一，”賽默飛材料科學(xué)業(yè)務(wù)副總裁兼總Trisha Rice表示，“它可以為工業(yè)用戶配置為精益的‘點對點’解決方案，或者為研究人員提供一系列的成像和分析選項。Prisma的可選配置性可以讓客戶更自信的購買，因為他們知道Prisma擁有他們所需要的*解決方案，這也將為用戶未來可能出現(xiàn)的潛在需求提供‘未來保障’。”

　　Prisma平臺具有先進(jìn)的自動化功能;強(qiáng)勁分析支持;一個更大、更、更靈活的平臺;以及各種可選配件。它的可配置性使它成為許多不同類型客戶的理想解決方案。具有較窄、需求的實驗室將會重視它的速度和簡易操作性，而多功能需求、多應(yīng)用的用戶將對單個集成平臺上提供可選的成像檢測器和分析工具的廣泛選擇更感興趣。

　　Prisma的樣品室很容易處理大的、重的樣品，并且可搭載先進(jìn)的能譜(EDS)，提供快速、準(zhǔn)確的元素微觀分析。該系統(tǒng)可以在廣泛的真空條件下運(yùn)行，允許在不清潔、干燥、涂層或?qū)υO(shè)備可能造成損害風(fēng)險的情況下觀察非導(dǎo)電、潮濕、臟或脫氣樣品的自然狀態(tài)。而環(huán)境掃描電子顯微鏡(ESEM)模式、加熱或冷卻模式則為當(dāng)下比較火熱的原位表征開辟了新的實驗路徑。

　　引導(dǎo)性的工作流使系統(tǒng)易于學(xué)習(xí)和操作，例如，方便的“撤銷/重做”功能提高了工作效率。MAPS軟件包可以由多個圖像創(chuàng)建大面積的復(fù)合的圖像，并對數(shù)據(jù)進(jìn)行關(guān)聯(lián)。